Авторы: Mekhrengin M.V., Guryev V., Meshkovskii I.K., Smirnov D., Sukhinets A.V. Язык Русский Издание: Proceedings of 2018 IEEE East-West Design and Test SymposiumГод: 2018Ссылка: https://ieeexplore.ieee.org/document/8524839